AET 介電常數(shù)測試儀 陶瓷粉體液體DkDf分析Microwave Dielectrometer

AET 介電常數(shù)測試儀 陶瓷粉體液體DkDf分析Microwave Dielectrometer

?? 一、產(chǎn)品概述與應用背景

該裝置名為Microwave Dielectrometer，專為無線及高速數(shù)字設備的電氣設計而開發(fā)。它面向工程師和材料開發(fā)商，旨在讓任何人都能輕松實現(xiàn)高精度的介電率測量。系統(tǒng)針對不同的測量對象和頻率需求，提供了多種測量方式。

?? 二、三種主要測量模式對比

AET提供三種核心測量模式，分別針對不同形態(tài)的材料：

1. 空洞共振器 TM模式（薄膜/板材專用）

• 適用對象：PCB基板、薄膜、樹脂、玻璃及陶瓷等。

• 特點：基于JIS C2565標準，利用圓柱空洞中心軸的電場變化，適合測量PTFE或高純度陶瓷等低介電損耗材料的tanδ。

• 參數(shù)：頻率1GHz~10GHz，Dk范圍1~30，Df范圍0.1~0.0001，精度Dk±1%。

• 樣品要求：細長條狀（寬3mm，厚0.05-1mm，長>80mm）。

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2. 空洞共振器 TE模式（5G高頻專用）

• 適用對象：5G通信材料、高速信號傳輸柔性電路板。

• 特點：專門針對厚度0.3mm以下的薄膜，頻率可達40GHz，固定間隙設計保證了測量穩(wěn)定性。

• 參數(shù)：頻率10GHz~40GHz，Dk范圍1~5，Df范圍0.01~0.0001。

• 標準：符合JIS R1641及IPC-TM650 2.5.5.13。

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3. 同軸共振器（非破壞性測量）

• 適用對象：手機外殼、連接器模塑料等成品部件。

• 特點：利用開口部的隱逝波（近場）進行非破壞性測量，無需樣品加工。

• 參數(shù)：單個共振器可測5個頻點（覆蓋0.8GHz至18.4GHz），Dk范圍1~15。

• 技術(shù)背景：與東京大學前田研究室合作開發(fā)，專的利的號第3691812號。

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??? 三、特殊材料測量方案

• 粉體/液體：使用石英管填充樣品，通過真密度計算填充率來測定介電率；也可用于低極性溶劑的精密測量。

• 電纜材料：專用共振器設計，可直接對發(fā)泡PTFE等電線絕緣材料進行高精度測量。

• 超低損耗陶瓷：采用介質(zhì)共振器，通過夾在導體板間的陶瓷圓柱共振，適合Df在0.001以下的材料。

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?? 四、系統(tǒng)構(gòu)成與服務

• 硬件配置：由共振器、網(wǎng)絡分析儀（支持Keysight, Anritsu, Rohde & Schwarz等品牌）及控制PC組成。

• 推薦設備：緊湊型USB矢量網(wǎng)絡分析儀MS46122B（頻率選項覆蓋1MHz至43.5GHz）。

• 軟件操作：配備專用軟件，通過測量向?qū)Ы缑鎸崿F(xiàn)簡單操作。

• 服務支持：AET提供基于豐富經(jīng)驗的介電率測量服務，可根據(jù)客戶需求選擇最佳測量方法。

該測量系統(tǒng)通過模塊化設計覆蓋了從粉體到成品外殼的廣泛材料形態(tài)，并結(jié)合5G高頻測試需求，為材料研發(fā)與質(zhì)量控制提供了全面的解決方案。