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日本otsukael光譜干涉式晶圓測(cè)厚儀SF-3 通過光學(xué)方法可以進(jìn)行非接觸式和非破壞性的厚度測(cè)量。 實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性 可實(shí)時(shí)高速監(jiān)控拋光 實(shí)現(xiàn)了長 WD（工作距離）并且易于集成到設(shè)備中 從主機(jī)設(shè)備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進(jìn)行控制 可以進(jìn)行多層厚度測(cè)量 可測(cè)量臨時(shí)晶圓（臨時(shí)鍵合晶圓）各層厚度

日本otsukael 顯微分光膜厚儀OPTM系列 OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測(cè)量微小區(qū)域的絕對(duì)反射率來實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。 各種薄膜、晶圓、光學(xué)材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測(cè)量?？梢赃M(jìn)行1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。

日本otsukael Zeta 電位/粒徑測(cè)量系統(tǒng) ELSZneoSE 可根據(jù)應(yīng)用增加功能（分子量測(cè)量、顆粒濃度測(cè)量、微流變學(xué)測(cè)量、凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)量）。 使用標(biāo)準(zhǔn)流通池連續(xù)測(cè)量粒徑和 zeta 電位 可在從稀溶液到濃溶液（高達(dá) 40%）的寬濃度范圍內(nèi)測(cè)量粒徑和 zeta 電位

日本otsukael 電位/粒徑/分子量測(cè)量系統(tǒng)ELSZneo ELSZ 系列中的最高型號(hào)，除了可以測(cè)量稀溶液到濃溶液中的 zeta 電位和粒徑外，還可以測(cè)量分子重量。作為一項(xiàng)新功能，多角度測(cè)量已被采用，以提高粒度分布的分辨率。它還可以進(jìn)行顆粒濃度測(cè)量、微流變學(xué)測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。 新型zeta電位平板電池單元具有新開發(fā)的高鹽涂層，可以在鹽水等高鹽環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。我們還有一系列超微量細(xì)胞單元，

日本napson晶圓平面度測(cè)量系統(tǒng)FLA-200 支持厚度測(cè)量、PN判斷、溫度測(cè)量（硅晶圓） 自檢功能，測(cè)量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測(cè)量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP

日本napson非接觸式電阻計(jì) EC-80 支持厚度測(cè)量、PN判斷、溫度測(cè)量（硅晶圓） 自檢功能，測(cè)量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測(cè)量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP

日本napson薄層電阻的 4 探針測(cè)量儀RT70V系列 半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等） 新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等） 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等） 擴(kuò)散樣品 硅基外延、離子注入樣品

日本technomate壓力調(diào)整閥 DPR 適用于一般制冷、水冷機(jī)組、低溫運(yùn)輸箱、熱泵式空調(diào)器、空調(diào)等

日本technomate熱力膨脹閥 SCX 適用于一般制冷、水冷機(jī)組、低溫運(yùn)輸箱、熱泵式空調(diào)器、空調(diào)等

日本technomate冷媒用電磁閥RPV 型 全新設(shè)計(jì)采用大幅提高視覺性的刻度板 小型,輕便 除自動(dòng)復(fù)位、高壓手動(dòng)復(fù)位,高低壓手動(dòng)復(fù)位型等種類