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大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜測厚儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時間：2026-06-10 大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時間：2026-06-10 Yamato Scientific 膜厚計 涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時間：2026-06-10 Otsuka Yamato智能膜厚計SM-100P Pro測厚儀，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時間：2026-06-10
英國Elcometer 331混凝土保護層厚度測量儀 331² 系列 / 331-2-B，用于建筑結(jié)構(gòu)維護前的檢查，防止鉆孔時損壞鋼筋、管道或預(yù)應(yīng)力筋，避免結(jié)構(gòu)損傷。
更新時間：2026-06-25
美國filmetrics 薄膜測量儀 光學(xué)膜厚儀美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV 輕松且經(jīng)濟地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層 F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項專有的優(yōu)良技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。
更新時間：2026-06-24
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