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ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片電阻測試特征？

更新時(shí)間：2023-12-06      瀏覽次數(shù)：733

AE-162E 用于超高速芯片電阻測試

非常適合 D、F、G、J、K 級、片式、MELF、

徑向和軸向電阻器的分選機(jī)和編帶機(jī)。

兼容極小芯片（低功耗測量）

超高速0.7msec.（典型值）

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性

通過每個量程的測量值積分時(shí)間設(shè)置功能，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。

%測量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量：0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查：測量前/測量后/關(guān)閉可選

RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB可選）

打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（Centronics兼容）

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置值傳輸功能：（相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162E以進(jìn)行自動設(shè)置。）

標(biāo)準(zhǔn)配備測量電流/測量電壓異常檢查電路

兼容極小芯片（低功耗測量）

超高速0.7msec.（典型值）

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性

通過每個量程的測量值積分時(shí)間設(shè)置功能，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。

%測量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量：0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查：測量前/測量后/關(guān)閉可選

RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB可選）

打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（Centronics兼容）

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置值傳輸功能：（相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162E以進(jìn)行自動設(shè)置。）

標(biāo)準(zhǔn)配備測量電流/測量電壓異常檢查電路


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