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產(chǎn)品分類
更新時間:2026-06-30
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機械摩擦損傷
批量槽式清洗將數(shù)十片晶圓同槽浸泡,片體相互碰撞、摩擦,直接刮傷表面圖形;槽內(nèi)超聲振板直接接觸基板,也會產(chǎn)生物理劃痕。
聲波能量過載擊穿微結(jié)構(gòu)
常規(guī)低頻超聲波(20kHz~100kHz)空化氣泡爆破沖擊力非常強,針對厚度僅數(shù)十納米的沉積薄膜、光刻膠結(jié)構(gòu),極易造成層裂、穿孔。
噴淋覆蓋不均,局部能量集中
單點位簡易噴淋設(shè)備會造成基板局部聲波能量過高,邊緣、薄膜薄弱區(qū)域易出現(xiàn)損傷,同時清洗潔凈度參差不齊。
結(jié)構(gòu):單組獨立霧化噴嘴,單點定向柔和噴淋
無損清洗優(yōu)勢:可精準對準 4 寸小型基板、光掩模版局部區(qū)域,流量、聲波功率單獨微調(diào),小批量試樣清洗時能量全可控,不會出現(xiàn)過清洗損傷;藥液用量最少,減少化學試劑對薄膜的腐蝕。
適用場景:實驗室工藝研發(fā)、小批量掩膜版試樣、Lift-off 剝離小樣處理。
結(jié)構(gòu):雙側(cè)對稱雙通道噴淋,支持雙頻獨立輸出
無損清洗優(yōu)勢:基板正反 / 左右雙側(cè)同步覆蓋,避免單側(cè)噴淋造成的局部能量堆積,整片晶圓聲波分布均勻,邊緣與中心潔凈度一致,無局部過清洗、薄膜破損問題;清洗節(jié)拍相比單噴嘴提升 40%,適配中小規(guī)模量產(chǎn)。
適用場景:4 寸硅晶圓量產(chǎn)線、常規(guī)光罩日常潔凈工序。
結(jié)構(gòu):三組分區(qū)獨立控制噴嘴,可分別調(diào)節(jié)流量、頻率、功率
無損清洗優(yōu)勢:全域無盲區(qū)全覆蓋大尺寸基板,針對多層薄膜、高低差線路基板,可分區(qū)匹配不同聲波參數(shù);復(fù)雜結(jié)構(gòu)區(qū)域采用低功率柔和清洗,平整區(qū)域適配標準功率,兼顧潔凈度與結(jié)構(gòu)保護,高的端的先進制程優(yōu)先選擇。
適用場景:大規(guī)模芯片量產(chǎn)、多層薄膜精密基板、高潔凈度光掩膜生產(chǎn)線。
PVDF 全密封換能器組件
所有接觸藥液部件均采用聚偏氟乙烯全封裝,耐強酸強堿腐蝕,不會析出雜質(zhì)污染晶圓,同時無金屬硬邊摩擦刮傷基板風險,適配各類腐蝕性清洗試劑。同時提供浸沒式換能器版本,可改造原有濕法槽體。
單片獨立作業(yè)模式
系統(tǒng)一次僅處理單一片晶圓,無多片堆疊、碰撞風險;每片基板可單獨設(shè)置清洗參數(shù),柔性匹配不同產(chǎn)品,不會出現(xiàn)批量統(tǒng)一參數(shù)造成的部分工件過清洗損傷。
模塊化低功率調(diào)控發(fā)生器
Slim Line 纖薄系列發(fā)生器功率線性可調(diào),可精準輸出低能量兆聲波,針對超薄、高脆弱基板做到微量溫和清洗,不會出現(xiàn)能量過載擊穿薄膜。
單片硅晶圓全制程精密清洗;
光刻光掩模版高精度潔凈處理;
Lift-off 剝離工藝殘膠、金屬殘渣去除;
4 英寸化合物半導(dǎo)體基板濕法清洗;
實驗室新品工藝研發(fā)試樣清洗。
研發(fā)打樣、小批量試樣:選擇單噴嘴,精準控能、低成本,避免試樣報廢;
常規(guī)中小型量產(chǎn)、標準 4 寸晶圓:優(yōu)先雙噴嘴,兼顧清洗均勻度與生產(chǎn)效率;
高產(chǎn)能、多層薄膜復(fù)雜基板、高的端的先進制程:選用三通道噴嘴,分區(qū)獨立調(diào)控,最的大的化的降低微結(jié)構(gòu)損傷概率。
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