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  • JCR15V150W ELC24V250W山田光學 350W鹵素燈光源 250W鹵素光源
    JCR15V150W ELC24V250W山田光學 350W鹵素燈光源 250W鹵素光源

    山田光學 350W鹵素燈光源 250W鹵素光源 JCR15V150W ELC24V250W yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-17
  • YP系列 YP-150ID YP-250Iyamada山田光學40萬Lx鹵素冷光源瑕疵檢測燈
    YP系列 YP-150ID YP-250Iyamada山田光學40萬Lx鹵素冷光源瑕疵檢測燈

    yamada山田光學40萬Lx鹵素冷光源瑕疵檢測燈 YP系列 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • 雙光源 YP-150ID YP-250I山田光學 外觀顯微觀察表面檢查燈 亮度可調(diào)
    雙光源 YP-150ID YP-250I山田光學 外觀顯微觀察表面檢查燈 亮度可調(diào)

    山田光學 外觀顯微觀察表面檢查燈 亮度可調(diào) 雙光源 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學 8英寸晶圓拋光缺陷檢查燈<0.2μm
    YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學 8英寸晶圓拋光缺陷檢查燈<0.2μm

    山田光學 8英寸晶圓拋光缺陷檢查燈<0.2μm YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I YP-150ID YP-250IYAMADA KOGAKU山田光學 高功率檢查燈
    YP-150I YP-150ID YP-250IYAMADA KOGAKU山田光學 高功率檢查燈

    YAMADA KOGAKU山田光學 高功率檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學半導(dǎo)體晶圓劃痕拋光不均霧狀檢查燈
    YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學半導(dǎo)體晶圓劃痕拋光不均霧狀檢查燈

    山田光學半導(dǎo)體晶圓劃痕拋光不均霧狀檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學 晶圓硅片碳化硅φ30-60異物檢查燈
    YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學 晶圓硅片碳化硅φ30-60異物檢查燈

    山田光學 晶圓硅片碳化硅φ30-60異物檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I/YP-250I山田光學 黃光白光 雙光源鹵素檢查燈
    YP-150I/YP-250I山田光學 黃光白光 雙光源鹵素檢查燈

    山田光學 黃光白光 雙光源鹵素檢查燈 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I/YP-250I日本山田光學YAMADA高照度鹵素強光燈 光源
    YP-150I/YP-250I日本山田光學YAMADA高照度鹵素強光燈 光源

    日本山田光學YAMADA高照度鹵素強光燈 光源 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
  • YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學 強光燈檢測晶圓表面硅渣 鹵素光源
    YP-150I YP-150ID YP-250I山田光學 強光燈檢測晶圓表面硅渣 鹵素光源

    山田光學 強光燈檢測晶圓表面硅渣 鹵素光源 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。

    更新時間:2026-04-13
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