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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
產(chǎn)品型號：SM-100S / SM-100P
更新時間：2026-06-10簡要描述：大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
便攜易用：整機重量僅 1.1公斤，輕巧便攜。內(nèi)置電池和觸摸屏，無需連接外部電腦，開機即用，操作直觀，無需專業(yè)培訓(xùn)。
高精度測量：采用分光干涉法，即使作為手持設(shè)備，也能實現(xiàn) 0.1微米 級別的高精度測量，且無需為每種材料制作校準(zhǔn)曲線。
非接觸與非破壞性：測量過程不會對樣品造成任何損傷，適用于各種脆弱或昂貴的薄膜材料。
適應(yīng)性強：不僅能測量平面，通過更換不同探頭，還可以測量有形狀、不規(guī)則的樣品，甚至可以測量生產(chǎn)線上的大型固定樣品，無需切割取樣。
光學(xué)薄膜：如反射防止膜、硬涂層等。
半導(dǎo)體：如氧化膜、光刻膠（Resist）膜等。
各類功能薄膜：包括食品包裝膜、醫(yī)療用膜、建材用膜等。
生產(chǎn)現(xiàn)場：可以直接拿到生產(chǎn)線，對正在加工的產(chǎn)品進(jìn)行實時抽檢。
大型樣品：對于無法移動或切割的大型卷材、建材等，可以直接在現(xiàn)場進(jìn)行測量。
研發(fā)實驗室：快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
標(biāo)準(zhǔn)探頭：適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等。
筆式探頭 (Pen-type Probe)：適用于狹窄空間或有復(fù)雜形狀的樣品。
非接觸式測量臺 (Non-contact Stage)：適用于不能接觸的樣品，如濕膜、半導(dǎo)體晶圓（Wafer）等，可自由設(shè)定探頭位置進(jìn)行非接觸測量。
大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
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