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您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - 儀器 - 測厚儀 - SM-100S StandardYamato Scientific 膜厚計涂層厚度檢測儀

Yamato Scientific 膜厚計涂層厚度檢測儀

產(chǎn)品型號：SM-100S Standard
更新時間：2026-06-10

簡要描述：Yamato Scientific 膜厚計涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。

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產(chǎn)品詳情

品牌	其他品牌	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進口	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

日本大塚電子（Otsuka Electronics）的便攜式薄膜厚度測量儀——Smart Thickness Gauge SM-100 series。這是一款專為解決傳統(tǒng)膜厚測量痛點而設(shè)計的高精度、手持式設(shè)備。

Yamato Scientific 膜厚計涂層厚度檢測儀

產(chǎn)品核心亮點

這款智能膜厚計旨在解決“無法在生產(chǎn)現(xiàn)場即時測量"、“測量結(jié)果因人而異"以及“精度不佳"等常見問題。其主要特點如下：

便攜易用：整機重量僅 1.1公斤，輕巧便攜。內(nèi)置電池和觸摸屏，無需連接外部電腦，開機即用，操作直觀，無需專業(yè)培訓。
高精度測量：采用分光干涉法，即使作為手持設(shè)備，也能實現(xiàn) 0.1微米級別的高精度測量，且無需為每種材料制作校準曲線。
非接觸與非破壞性：測量過程不會對樣品造成任何損傷，適用于各種脆弱或昂貴的薄膜材料。
適應(yīng)性強：不僅能測量平面，通過更換不同探頭，還可以測量有形狀、不規(guī)則的樣品，甚至可以測量生產(chǎn)線上的大型固定樣品，無需切割取樣。

主要規(guī)格

以下是該系列產(chǎn)品的主要型號規(guī)格對比：

項目	Pro (專業(yè)版)	Standard (標準版)
測量范圍	0.1 ～ 200 μm	1 ～ 200 μm
測量精度	±0.01 μm (10μm以下時)	±0.1 μm (10μm以下時)
光源	白色LED	白色LED
顯示/操作	內(nèi)置觸摸屏	內(nèi)置觸摸屏
電源	內(nèi)置可充電電池	內(nèi)置可充電電池

注：測量范圍和精度會因樣品材料的折射率等因素而有所變化。

測量對象與應(yīng)用場景

這款設(shè)備的應(yīng)用范圍非常廣泛，主要包括：

光學薄膜：如反射防止膜、硬涂層等。
半導體：如氧化膜、光刻膠（Resist）膜等。
各類功能薄膜：包括食品包裝膜、醫(yī)療用膜、建材用膜等。

場景舉例

生產(chǎn)現(xiàn)場：可以直接拿到生產(chǎn)線，對正在加工的產(chǎn)品進行實時抽檢。
大型樣品：對于無法移動或切割的大型卷材、建材等，可以直接在現(xiàn)場進行測量。
研發(fā)實驗室：快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。

可選配件

為了適應(yīng)更多測量需求，該產(chǎn)品還提供多種可選探頭：

標準探頭：適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等。
筆式探頭 (Pen-type Probe)：適用于狹窄空間或有復雜形狀的樣品。
非接觸式測量臺 (Non-contact Stage)：適用于不能接觸的樣品，如濕膜、半導體晶圓（Wafer）等，可自由設(shè)定探頭位置進行非接觸測量。

Yamato Scientific 膜厚計涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。

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Yamato Scientific 膜厚計 涂層厚度檢測儀

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