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產(chǎn)品型號(hào)：npinet / PS-LED-IRB
更新時(shí)間：2026-06-09簡(jiǎn)要描述：npinet / PS-LED-IRB日本NPI半導(dǎo)體晶圓內(nèi)部缺陷檢測(cè) 近紅外光源，適用于各種需要近紅外透射或反射檢測(cè)的場(chǎng)景。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
多波長(zhǎng)與定制化： 利用技術(shù)，能夠同時(shí)照射多種波長(zhǎng)的光。標(biāo)準(zhǔn)品的波長(zhǎng)范圍在 1050nm ~ 1200nm 之間（屬于近紅外波段），并且支持根據(jù)客戶需求進(jìn)行波長(zhǎng)定制。
結(jié)構(gòu)優(yōu)化： 相比傳統(tǒng)的鹵素光源，該產(chǎn)品不需要導(dǎo)光板（Light Guide），這使得光傳輸更高效，損耗更低。
高效散熱與長(zhǎng)壽命： 采用自然冷卻方式（無(wú)需風(fēng)扇），運(yùn)行安靜且維護(hù)簡(jiǎn)單。LED的設(shè)計(jì)壽命長(zhǎng)達(dá) 20,000小時(shí)。
精細(xì)調(diào)光： 配備了精細(xì)的調(diào)光功能，可以快速調(diào)整出所需的光線。
半導(dǎo)體檢測(cè)： 晶圓（Wafer）內(nèi)部缺陷（Void）檢測(cè)、半導(dǎo)體晶圓紅外顯微鏡檢查。
新能源檢測(cè)： 太陽(yáng)能電池（光伏）的裂紋（Crack）檢查。
其他： 適用于各種需要近紅外透射或反射檢測(cè)的場(chǎng)景。
| 項(xiàng)目 | 規(guī)格詳情 |
|---|---|
| 電源部 (控制器) | LED單元部 (光源頭) |
| 輸入電壓/電流：DC12V / 3A | 外形尺寸：φ25×82(L) mm |
| 消費(fèi)功率：24W | 重量：0.2kg |
| 通道數(shù)：3通道 (3Ch) | 工作溫度：0~4OO℃ |
| 調(diào)光方式：PWM電流控制 / 連續(xù)調(diào)光 | 工作濕度：20~85%RH (無(wú)結(jié)露) |
| 冷卻方式：自然冷卻 | 保護(hù)功能：過溫保護(hù) (監(jiān)測(cè)箱內(nèi)溫度) |
| 壽命：2萬(wàn)小時(shí) (設(shè)計(jì)壽命) |
補(bǔ)充說明：
調(diào)光控制： 支持通過調(diào)光旋鈕進(jìn)行連續(xù)調(diào)光，同時(shí)也支持 0~5V 模擬調(diào)光（可分別對(duì)3個(gè)通道進(jìn)行獨(dú)立控制，或?qū)λ型ǖ肋M(jìn)行整體控制）。
觸發(fā)信號(hào)： 支持接點(diǎn)或光耦合器的 ON 信號(hào)輸入。
npinet / PS-LED-IRB日本NPI半導(dǎo)體晶圓內(nèi)部缺陷檢測(cè) 近紅外光源，適用于各種需要近紅外透射或反射檢測(cè)的場(chǎng)景。
npinet / PS-LED-IRB日本NPI半導(dǎo)體晶圓內(nèi)部缺陷檢測(cè) 近紅外光源，適用于各種需要近紅外透射或反射檢測(cè)的場(chǎng)景。
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