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Santec 晶圓幾何參數(shù)測量系統(tǒng) 厚度測量儀

  • 產品型號:TMS-2000
  • 更新時間:2026-04-11

簡要描述:Santec 晶圓幾何參數(shù)測量系統(tǒng) 厚度測量儀 TMS-2000

TMS-2000以非接觸方式測量晶圓的的厚度分布,可以測量精度為1nm的平整度。 當在涉及極的端的溫度變化和振動的不穩(wěn)定環(huán)境中使用時,傳統(tǒng)的晶圓厚度映射技術難以解決精度問題,而TMS-2000具有高的環(huán)境穩(wěn)定性。由于其高速測量能力和緊湊的尺寸,TMS-2000可用于涉及在線檢測的各種工業(yè)領域。

產品詳情
品牌其他品牌測量原理光學相干斷層掃描 (OCT) / 干涉探測技術
厚度重復性1nm (高精度測量)掃描方式螺旋掃描 (高速、高密度)
測量對象硅(Si)、碳化硅(SiC)、鈮酸鋰(LiNbO3)、SOI、MEMS等材料適應性具備偏振效應補償 (針對雙折射/低反射材料)
薄膜厚度測量范圍最薄可測 4μm 的薄膜翹曲測量形貌分析可測量毫米級翹曲晶圓的平面內形貌
行業(yè)標準符合 SEMI 標準 (GFLR, SFQR, ESFQR 等)

Santec  晶圓幾何參數(shù)測量系統(tǒng) 厚度測量儀 TMS-2000

Santec  晶圓幾何參數(shù)測量系統(tǒng) 厚度測量儀 TMS-2000


在不穩(wěn)定環(huán)境中追求極的致的精度


在半導體制造中,晶圓的厚度與平整度(如GBIR, SBIR, ESFQR等參數(shù))直接決定了芯片的良率。然而,傳統(tǒng)的晶圓厚度映射技術往往局限于實驗室環(huán)境,一旦面對工廠現(xiàn)場的極的端的溫度波動或機械振動,測量精度便難以維持。Santec TMS-2000 晶圓測量系統(tǒng)正是為解決這一痛點而生,它不僅擁有0.1nm的超高分辨率,更憑借其獨特的“高耐環(huán)境性"設計,讓實驗室級別的精度走進了工業(yè)生產線。

Santec  晶圓幾何參數(shù)測量系統(tǒng) 厚度測量儀



一、 核心技術:非接觸干涉探測與 0.1nm 分辨率


TMS-2000 采用基于光學干涉原理的非接觸式探測技術。這種技術避免了物理接觸對晶圓表面造成的潛在損傷,同時確保了測量的極的高的靈敏度。


  • 極的致的精度:系統(tǒng)具備 0.1nm 的厚度顯示分辨率,測量重復精度(1σ)典型值優(yōu)于 1nm(最大 ≤3nm)。這意味著它能敏銳捕捉到晶圓表面哪怕是亞納米級的微小起伏,為工藝調整提供最的可靠的數(shù)據(jù)支撐。

  • 寬廣測量范圍:針對硅(Si)材料(折射率 n=3.5),其測量厚度范圍覆蓋 15μm 至 1400μm,完的美的適應從超薄晶圓到常規(guī)厚度晶圓的多樣化檢測需求。


二、 獨特優(yōu)勢:高耐環(huán)境性(專的利的申請中)


文檔中特別強調,TMS-2000 具有高耐環(huán)境性(High Environmental Stability)。

與傳統(tǒng)設備不同,TMS-2000 通過獨特的結構設計(專的利的申請中),有效隔離了外界干擾。即使在涉及極的端的溫度變化和振動的“不穩(wěn)定環(huán)境"下,它依然能保持核心光學元件的穩(wěn)定性,確保測量數(shù)據(jù)不受環(huán)境噪音影響。這一特性使其從單純的實驗室設備,轉變?yōu)檫m用于在線檢測的工業(yè)級解決方案。


三、 高效作業(yè):螺旋掃描與 12 英寸全自動適配


在追求精度的同時,TMS-2000 也兼顧了生產效率:

  • 高速測量:采用獨特的螺旋掃描技術(直徑間距 2mm,周長間距 ≤0.5mm),結合可切換的線掃描模式,單片晶圓的測量時間僅需 0.5 至 2 分鐘,極大地提升了檢測吞吐量。

  • 全自動操作:設備配備 12 英寸晶圓工作臺,具備自動缺口檢測與中心定位功能,配合獨特的數(shù)據(jù)采集軟件,可實現(xiàn)從加載到數(shù)據(jù)輸出的全流程自動化。


四、 符合 SEMI 標準的深度數(shù)據(jù)分析


TMS-2000 的軟件系統(tǒng)不僅能進行基礎的厚度測量,還能進行符合 SEMI 標準的深度平整度分析,包括:

  • 全局平整度 (GBIR, GFLD, GFLR)

  • 局部平整度 (SBIR, SFQD, SFQR)

  • 邊緣平整度 (ESFQR)
    此外,系統(tǒng)支持指定 2 片晶圓的厚度差異分析,這一功能對于監(jiān)測化學機械拋光(CMP)過程中的去除率(Removal Rate)具有極的高的實用價值。


結語


Santec TMS-2000 憑借其 0.1nm 分辨率高環(huán)境穩(wěn)定性,重新定義了工業(yè)現(xiàn)場的晶圓測量標準。它不僅是一臺測量儀器,更是連接精密實驗室數(shù)據(jù)與大規(guī)模工業(yè)生產的橋梁。



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