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山田光學(xué) yamada 高亮度鹵素落射照明裝置 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié)，用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間：2026-06-18
yamada-opt可見光鹵素同軸照明光源/LED燈 YP-150I YP-150ID YP-250I，yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié)，用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間：2026-07-09
山田光學(xué)晶圓表面宏觀劃痕異物可見光檢查燈HPS-150 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié)，用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間：2026-07-09
山田YAMADA KOGAKU 二向色鏡（冷鏡）檢查燈 YP-150I YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié)，用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間：2026-07-09
YAMADA KOGAKU KOGYO可見光鹵素?zé)?光源 山田光學(xué) YP-150I YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環(huán)節(jié)，用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間：2026-07-09
HAYASHI-REPIC夜視/特殊成像近紅外鹵素光源 LA-100IR 是一款輸出 800-1,100nm 純凈近紅外光的鹵素光源。它專為機器視覺照明、理化實驗、夜視觀察及特殊圖像處理等領(lǐng)域設(shè)計，適用于需要避免可見光干擾的專業(yè)場景。
更新時間：2026-07-16
prevac紫外線光源 紫外光電子能譜 UPS 研究UV source UVS 40A2可與多種放電氣體配合使用的高強度光子源。UVS 40A2 用于 UPS（紫外光電子能譜）研究。
更新時間：2026-06-11
dentsu sangyo玻璃異物劃痕 LED背光檢查燈 LP88 ,外觀缺陷檢測：用于玻璃、樹脂制品的針孔、氣泡、異物混入及劃痕檢測；電子元件檢測：作為LCD制造、基板工程及光學(xué)特性檢查的光源；尺寸與形狀測量：利用背光產(chǎn)生的清晰剪影進(jìn)行物體的有無檢測、輪廓識別及尺寸測量（如菲林片、薄膜）；其他工業(yè)檢測：包括飲料瓶的容量確認(rèn)及相機模組的評價檢查等。
更新時間：2026-07-09 山田光學(xué) LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt，山田光學(xué) YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源，可清晰檢出細(xì)微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷，發(fā)熱量低、壽命長久，適配人工質(zhì)檢與 AOI 自動化設(shè)備。廣泛用于半導(dǎo)體硅片、FPD 玻璃基板、光學(xué)鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測，適配無塵車間量產(chǎn)抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。
更新時間：2026-06-23
細(xì)微劃痕霧斑顆粒拋光不良 人工質(zhì)檢燈 LED，山田光學(xué)YP-250IL主要用于半導(dǎo)體晶圓和液晶基板的表面宏觀缺陷檢測，憑借高達(dá)400,000 Lx的照度，能清晰識別劃痕、異物和研磨不均等微小瑕疵。 適用行業(yè)以半導(dǎo)體制造和液晶面板生產(chǎn)為主，同時也適用于精密電子元器件、光學(xué)元件等需要高亮度、長壽命照明的工業(yè)自動化檢測場景。其核心價值在于用LED技術(shù)替代短命鹵素?zé)?，大幅降低產(chǎn)線停機維護(hù)成本
更新時間：2026-06-23
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