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SCREEN 光干涉膜厚儀 2-12寸晶圓通用

  • 產(chǎn)品型號:VM-1020
  • 更新時間:2026-06-10

簡要描述:SCREEN 光干涉膜厚儀 2-12寸晶圓通用VM-1020,這是一款專為研發(fā)(R&D)設(shè)計的顯微鏡型測量設(shè)備,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。

產(chǎn)品詳情
品牌其他品牌產(chǎn)地類別進口
應(yīng)用領(lǐng)域綜合
SCREEN Semiconductor Solutions 推出的 VM-1020 光譜膜厚測量系統(tǒng)。這是一款專為研發(fā)(R&D)設(shè)計的顯微鏡型測量設(shè)備,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。

SCREEN 光干涉膜厚儀  2-12寸晶圓通用

產(chǎn)品概覽


VM-1020 是一款結(jié)合了顯微鏡和光譜儀的精密儀器。它通過分析樣品表面的反射光,在可見光范圍內(nèi)同時測量所有波長,從而實現(xiàn)對薄膜厚度的快速、高精度測定。


核心特性


  • 高速高精度測量:采用光纖輸入型 CCD 光譜儀,能夠同時測量全波段光譜,配合高性能 CPU 進行高速運算,可立即顯示膜厚數(shù)值。

  • 操作簡便:系統(tǒng)內(nèi)置“配方向?qū)?功能,極大地簡化了復(fù)雜配方的創(chuàng)建過程,同時改進了配方的注冊與管理。

  • 專為研發(fā)設(shè)計:其顯微鏡結(jié)構(gòu)使其特別適合在研發(fā)環(huán)境中進行精確的局部測量。


主要測量功能


該系統(tǒng)具備強的大的分析能力,可滿足多樣化的測量需求:
  • 多層膜測量:支持 25 種類型的層狀薄膜測量(UV 模式下支持 29 種),并可同時測量最多 四層 的層狀薄膜。

  • 光譜分析:能夠測量光譜反射率。

  • 數(shù)據(jù)可視化:提供測量數(shù)據(jù)的三維映射圖及其他統(tǒng)計輸出。

  • 蝕刻率計算:可計算蝕刻速率。

  • 自定義功能:允許用戶注冊新的薄膜類型。


技術(shù)規(guī)格

項目詳細參數(shù)
產(chǎn)品名稱VM-1020
產(chǎn)品類型光譜膜厚測量系統(tǒng)
適用場景研發(fā)(R&D)
晶圓尺寸50mm - 300mm


SCREEN 光干涉膜厚儀  2-12寸晶圓通用VM-1020,這是一款專為研發(fā)(R&D)設(shè)計的顯微鏡型測量設(shè)備,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。


SCREEN 光干涉膜厚儀  2-12寸晶圓通用VM-1020,這是一款專為研發(fā)(R&D)設(shè)計的顯微鏡型測量設(shè)備,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。



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