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更新時(shí)間：2026-06-10簡(jiǎn)要描述：Otsuka Yamato智能膜厚計(jì)SM-100P Pro測(cè)厚儀，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
便攜易用：整機(jī)重量?jī)H 1.1公斤，輕巧便攜。內(nèi)置電池和觸摸屏，無需連接外部電腦，開機(jī)即用，操作直觀，無需專業(yè)培訓(xùn)。
高精度測(cè)量：采用分光干涉法，即使作為手持設(shè)備，也能實(shí)現(xiàn) 0.1微米 級(jí)別的高精度測(cè)量，且無需為每種材料制作校準(zhǔn)曲線。
非接觸與非破壞性：測(cè)量過程不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷，適用于各種脆弱或昂貴的薄膜材料。
適應(yīng)性強(qiáng)：不僅能測(cè)量平面，通過更換不同探頭，還可以測(cè)量有形狀、不規(guī)則的樣品，甚至可以測(cè)量生產(chǎn)線上的大型固定樣品，無需切割取樣。
光學(xué)薄膜：如反射防止膜、硬涂層等。
半導(dǎo)體：如氧化膜、光刻膠（Resist）膜等。
各類功能薄膜：包括食品包裝膜、醫(yī)療用膜、建材用膜等。
生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)：可以直接拿到生產(chǎn)線，對(duì)正在加工的產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)時(shí)抽檢。
大型樣品：對(duì)于無法移動(dòng)或切割的大型卷材、建材等，可以直接在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量。
研發(fā)實(shí)驗(yàn)室：快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
標(biāo)準(zhǔn)探頭：適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等。
筆式探頭 (Pen-type Probe)：適用于狹窄空間或有復(fù)雜形狀的樣品。
非接觸式測(cè)量臺(tái) (Non-contact Stage)：適用于不能接觸的樣品，如濕膜、半導(dǎo)體晶圓（Wafer）等，可自由設(shè)定探頭位置進(jìn)行非接觸測(cè)量。
Otsuka Yamato智能膜厚計(jì)SM-100P Pro測(cè)厚儀，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
Otsuka Yamato智能膜厚計(jì)SM-100P Pro測(cè)厚儀，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
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